偏光應力儀的檢測范圍包括材料的應力值和應力分布，適用于各種透明材料。它可以分析應力分布和變化情況，為材料制備、加工和設計提供重要的參考依據。

該儀器采用偏振光干涉技術，將經過特殊處理的雙折射晶體放入待測材料中，通過觀察干涉圖案的變化來測量材料的應力情況。雙折射晶體具有兩個不同的折射率，因此當偏振光經過它時會產生干涉現象。當材料內部存在應力時，應力會導致光學性質的變化，進而影響干涉圖案的形狀和位置。

偏光應力儀具有高精度、高穩定性和可重復性等優點，適用于各種透明材料的質量控制和科學研究。它不僅可以測量材料的應力值，還可以分析應力分布和變化情況，為材料制備、加工和設計提供重要的參考依據，有助于優化材料性能，提高產品品質，推動材料科學的發展。

此外，偏光應力儀還具有簡單易用的操作界面和豐富的數據分析功能，使得測量結果更加直觀和易于理解。它可以與其它測試設備進行聯用，實現多種測試手段的集成，提高了測試效率和準確性。在材料科學、物理、化學、光學等領域，實驗工具。

技術參數

儀器示值 0.1nm

測量誤差 2nm

偏振場直徑 150mm

檢偏振片旋轉角度 360°

光場邊沿亮度 ＞120cd/m2

外形尺寸 220mm×370mm×480mm(長寬高)

工作溫度 15℃-50℃

工作電源 220V 50Hz